分析机器设备的缺陷数时，宜采用（ ）。 A. p控制图 B. np图C. u控制图 D.X－R控制图

相关问题 1：

填空题当待排序的记录数较大，排序码较随机且对稳定性不作要求时，宜采用（）排序；当待排序的记录数较大，存储空间允许且要求排序是稳定时，宜采用（）排序。

点击查看答案

相关问题 2：

单选题描述分类数据的集中趋势时，宜采用()。A 众数B 中位数C 简单平均数D 加权平均数

点击查看答案

相关问题 3：

单选题机会缺陷率DPO的计算公式是（）A DPO=缺陷数/（产品数×机会数）B DPO=（产品数×机会数）/缺陷数C DPO=产品数/（缺陷数×机会数）D DPO=（缺陷数×机会数）/产品数

点击查看答案

相关问题 4：

判断题以资产保全为目的的机器设备评估，一般宜采用重置成本法。A 对B 错

点击查看答案

相关问题 5：

填空题磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件；为了有效地检出近表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件

点击查看答案

相关问题 6：

问答题控制产品单位样品缺陷数采用什么控制图？

点击查看答案

相关问题 7：

多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直

点击查看答案